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CCD強光串擾效應的串擾線缺口現象及其機制

放大字體  縮小字體 更新日期:2018-11-26  瀏覽次數:7
摘 要:在激光輻照行間轉移CCD相機的實驗中發現了關于CCD串擾效應的一個新現象,即在串擾線上出現缺口,該缺口緊鄰主光斑上側且隨光強增大而減小。基于行間轉移面陣CCD的構造和工作過程,利用CCD串擾效應的一種
  • 【題 名】CCD強光串擾效應的串擾線缺口現象及其機制
  • 【作 者】張震 江天 程湘愛 姜宗福
  • 【機 構】國防科學技術大學光電科學與工程學院 長沙410073
  • 【刊 名】《強激光與粒子束》2010年 第7期 1505-1510頁 共6頁
  • 【關鍵詞】激光 CCD 串擾線缺口 溢出中斷 耦合轉移
  • 【文 摘】在激光輻照行間轉移CCD相機的實驗中發現了關于CCD串擾效應的一個新現象,即在串擾線上出現缺口,該缺口緊鄰主光斑上側且隨光強增大而減小。基于行間轉移面陣CCD的構造和工作過程,利用CCD串擾效應的一種新機制對現象作出了合理的解釋。串擾線的形成依賴于在垂直轉移動作過程中CCD信號積分勢阱中的載流子向垂直轉移CCD寄存器中的溢出。串擾線上缺口的出現則是由于CCD的信號積分勢阱被讀出轉移動作清空后再次填滿需要經過一定時間,該時間內無信號電荷溢出至轉移溝道;讀出轉移清空存儲勢阱的時刻是構成主光斑的主體信號電荷按正常時序進入垂直轉移CCD寄存器的時刻,故缺口緊鄰主光斑的上側;光強越大,光電子再次填滿存儲勢阱乃至溢出形成串擾線所需要的時間越短,則缺口越小。
 
本文導航:
  • (1) 激光,CCD,串擾線缺口,溢出中斷,耦合轉移
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